ATOS電磁閥異常振動(dòng)原因分析及處理方案

ATOS電磁閥異常振動(dòng)原因分析及處理方案：
    ATOS電磁閥振動(dòng)是閥門(mén)運(yùn)行中較難處理的故障之一。振動(dòng)不僅加速調(diào)節(jié)閥的損壞，也對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和安全造成影響。本文結(jié)合智能定位器的研究，給出現(xiàn)場(chǎng)處理振動(dòng)問(wèn)題的注意事項(xiàng)和方法。
    執(zhí)行機(jī)構(gòu)漏氣
    ATOS電磁閥由于漏氣使實(shí)際閥位偏離給定閥位，造成伺服放大器反復(fù)充氣，使閥門(mén)不能穩(wěn)定在給定閥位，造成閥門(mén)振動(dòng)。
    ATOS電磁閥氣動(dòng)薄膜執(zhí)行機(jī)構(gòu)
    氣動(dòng)薄膜執(zhí)行機(jī)構(gòu)的膜片破損，推桿與彈簧托盤(pán)松動(dòng)，O形圈破損，反作用執(zhí)行機(jī)構(gòu)推桿與下膜蓋之間的密封漏氣，通常為V形密封圈磨損，頂裝手輪機(jī)構(gòu)上膜蓋密封漏氣。
    （2）直行程氣缸執(zhí)行機(jī)構(gòu)
    直行程氣缸執(zhí)行機(jī)構(gòu)（包含用于撥叉式角行程執(zhí)行機(jī)構(gòu)）的活塞密封圈漏氣（竄缸漏氣），活塞缸蓋密封漏氣，限位螺釘密封組件漏氣，輸出軸與缸蓋間密封漏氣。
    （3）雙齒條結(jié)構(gòu)角行程執(zhí)行機(jī)構(gòu)
    雙齒條結(jié)構(gòu)角行程執(zhí)行機(jī)構(gòu)的活塞背面密封圈漏氣，氣缸蓋與缸體密封圈漏氣，輸出軸與缸體連接的上下支撐密封圈漏氣，氣缸蓋上的限位螺釘漏氣。
    （4）外部附件
    外部附件如各定位器輸出管線(xiàn)接頭漏氣，氣控增速器或繼動(dòng)器、快排閥、單向調(diào)速器和保位閥漏氣。
    2.2漏氣處理
    針對(duì)不同的漏氣現(xiàn)象，采取的處理方法不同。
    （1）如果閥門(mén)沒(méi)有嚴(yán)格的開(kāi)關(guān)時(shí)間限制，應(yīng)盡可能減少氣動(dòng)附件和過(guò)程接頭，如取消快排閥、氣控增速器、單向調(diào)速器、變徑和彎通等附屬元件。
    （2）定時(shí)清掃并加注潤(rùn)滑油，保持推桿、閥桿潔凈無(wú)銹蝕，鍍鉻層不起皮，潤(rùn)滑充分，確保密封件不磨損、不漏氣。
    （3）巡檢時(shí)，對(duì)氣動(dòng)薄膜執(zhí)行機(jī)構(gòu)的排氣口（正作用排氣口在下膜蓋，反作用在上膜蓋）和單作用活塞缸的排氣口等部位進(jìn)行檢漏，發(fā)現(xiàn)漏氣及時(shí)進(jìn)行修復(fù)處理。
    ATOS電磁閥桿與填料、閥芯與閥座以及執(zhí)行機(jī)構(gòu)的卡塞。
    （1）閥桿密封填料壓裝過(guò)緊，引起閥桿運(yùn)行阻力增大。由于數(shù)控加工精度的提高，閥桿表面的光潔度很高，填料過(guò)緊增大了閥桿與填料間的阻力，在預(yù)緊彈簧回位時(shí)引起超調(diào)，進(jìn)而引起閥門(mén)長(zhǎng)周期振動(dòng)（振動(dòng)周期一般大于30s）。
    （2）對(duì)彈簧預(yù)緊的填料函采用不合理的方法調(diào)整填料壓蓋，造成閥桿運(yùn)行阻力增大、預(yù)緊彈簧或填料損壞。
    （3）低溫閥門(mén)未采用與其相應(yīng)的填料，造成摩擦阻力增大。
    （4）閥桿變形或填料壓蓋錯(cuò)位，引起閥桿摩擦填料壓蓋，造成運(yùn)行阻力增大，同時(shí)引起填料加速磨損造成介質(zhì)泄漏。閥桿變形通常有2種原因。①正作用執(zhí)行機(jī)構(gòu)由于氣源壓力設(shè)定值超過(guò)閥門(mén)標(biāo)稱(chēng)值，推力過(guò)大造成閥桿變形。②操作閥門(mén)手動(dòng)機(jī)構(gòu)時(shí)用力過(guò)大引起閥桿變形。